10月21日晚，我院詹文法教授在稼先楼南104会议室作了题为“集成电路测试现状综述”的学术报告。学院相关专业教师和研究生参加了报告会。

詹文法教授介绍了集成电路测试现状，内建自测试和外建自测试的内容，重点介绍了我校测试团队在测试数据压缩和测试向量重排序方面的成果情况。

报告结束后，参加会议的老师和同学与詹文法教授就相关问题进行了深入交流。詹教授悉心回答了参会师生的提问，现场讨论热烈。大家纷纷表示詹文法教授的报告内容丰富，深入浅出，让大家受益匪浅，拓展了师生们的视野。撰稿：查申龙 审核：詹文法