10月27日，我院进行国家自然科学基金开题报告会议，日本九州工业大学温晓青教授（IEEE Fellow）应邀参加，相关教师参加会议，会议由科研处吴健副处长主持。

会上，詹文法教授首先就国家自然科学基金面上项目《集成芯片可测性设计关键技术研究》进行了开题汇报，张庆平副教授汇报了《基于人工智能的集成电路测试代码自动生成》的研究进展。温晓青教授对这些汇报内容给予了高度评价，并深入分析了集成电路测试领域目前面临的挑战以及可能的解决方案。他还分享了集成电路产业的前沿动态，并介绍了九州工业大学团队在相关领域的研究方向和取得的成果，期望能有进一步的合作，为学院的国际交流工作提供了宝贵的指导和启发。

温晓青教授，日本九州工业大学博士生导师、IEEE Fellow，1986年于清华大学获得学士学位，1990年于日本广岛大学获得硕士 学位，并在1993年于日本大阪大学获得博士学位。1993至1997年，秋田大学担任助理教授，1995至1996年间作为访问学者在美国威斯康星大学进行研究。1998至2003年，美国华腾科技有限公司担任首席技术官。2004年，加入了日本九州工业大学，并担任高可靠性集成系统研究中心主任。研究领域集中在集成电路与系统芯片的可测性设计、低功耗测试、测试生成及故障诊断等方面。已发表超过170篇学术论文，出版了2本学术专著，并拥有41项美国专利和14项目本专利。此外，还担任IEEE TCAD、IEEE TVLSI等学术杂志的编委，并积极参与多个国际会议的程序委员会工作。（撰稿：陈瑞 摄影：张珺瑚 审核：詹文法）