4月18日，电子科技大学正高级工程师、集成电路测试技术研究室主任戴志坚应邀作了题为“射频混合集成电路智能测试技术”的学术讲座。讲座由电子工程与智能制造学院副院长詹文法主持，电智学院的部分教师、本科生和研究生代表现场参加了本次讲座。

戴志坚高工结合最新研究成果，从大规模集成电路测试问题、瞬态特性测试的表征、智能表征与测试模型、基于学习的特征测试等几个方面进行了系统的介绍、包括它们发展的现状、存在的问题及解决方略。戴志坚高工指出，瞬态特性测试是随电子系统复杂性增长而产生的、比较新的问题空间，而人工智能技术的进步为解决该类问题打开了空间。

在讲座结束时，詹文法副院长对戴志坚高工的深入分享表示感谢，该讲座使师生们获得了一次深入了解行业前沿和拓展研究方向的机会，推动了学院学术氛围的进一步提升。（撰稿：郑江云 摄影：蔡雪原 审核：詹文法）