2025年5月14日，我院副院长詹文法教授在稼先楼南104会议室作了题为“AI芯片测试方法”的学术报告。微电子学教研室主任郑江云副教授主持了报告会，微电子科学与工程专业本科生、部分研究生及相关教师参加了报告会。

报告会上，詹教授首先介绍了芯片测试的必要性，指出近年来人工智能、自动驾驶、低空飞行等各类新应用对芯片的安全性提出了更高要求。随后分析了三种芯片测试的主要技术：测试集优化旨在通过减少测试数据量、压缩测试时间或调整测试配置，在保证故障覆盖率的前提下降低测试成本；内建自测试通过在芯片内部集成测试电路，实现自我检测与诊断，减少对外部设备的依赖；外建自测试依赖外部设备（如ATE）执行测试程序，适用于复杂场景或内建自测试无法覆盖的测试需求。最后对AI芯片测试前沿做了探讨，这类高度复杂的测试需要兼顾硬件性能与算法适配性，要求测试平台支持并行化与自动化，并结合大数据技术优化测试覆盖率。

在讨论环节，师生们围绕专业课程学习、实践教学探索、校企联合微专业建设、学生竞赛等方面展开交流。此次学术报告不仅拓宽了师生们对AI芯片的视野，还激发了相关研究、学科和技能竞赛的热情。（撰稿：郑江云，摄影：蔡雪原，审核：董甲东）

报告人简介：詹文法，博士，教授，省政府特贴、皖江学者特聘教授，安徽省战略性新兴产业技术领军人才、学术技术带头人后备人选、高水平导师、线上教学名师。主持国家自然科学基金3项，安徽省重点研发项目1项，其他项目10余项；公开发表论文100余篇，获国家发明专利60余项；以第一完成人获得安徽省科技奖三等奖2项。