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电子工程与智能制造学院,其前身是物理与电气工程学院,源于1977年设立的物理系。2020年1月,根据学校专业结构调整需要,学院正式更名为电子工程与智能制造学院。
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詹文法
发布时间:2024-03-14 发布者: 浏览次数:



詹文法,博士,教授,省政府特贴、皖江学者特聘教授,安徽省战略性新兴产业技术领军人才、学术技术带头人后备人选、高水平导师、线上教学名师,安庆市首届精英人才。主持国家自然科学基金3项,安徽省重点研发项目1项,其他项目10余项;公开发表论文100余篇,获国家发明专利60余项,以第一完成人获得安徽省科技奖三等奖2项。

一、科研项目

1. 主持,国家自然科学基金面上项目,集成芯片可测性设计关键技术研究(项目编号:62474002)

2. 主持,全国重开放课题/高访项目,集成芯片可测性设计方法研究(项目编号:SKLICS-K202316)

3. 主持,射频集成与微组装技术国家地方联合工程实验室开放课题,先进封装工艺下集成电路自适应测试关键技术研究(项目编号:KFJJ20230101)

4. 皖江学者特聘教授(文件编号:皖教秘人[2020]75号)

5. 主持,国家自然科学基金,基于广义折叠技术的集成电路测试关键技术研究(项目编号:61306046)

6. 主持,国家自然科学基金,整数存储无理数的集成电路测试关键技术研究(项目编号:61640421)

7. 第一参研人,国家自然科学基金,针对数字集成电路中软错误与老化的协同防护(项目编号:61404001)

8. 第一参研人,国家自然科学基金,基于环形折叠方法的集成电路测试关键技术研究(项目编号:61540011)

9. 参加,国家自然科学基金,基于内容特性与感知质量的光场图像编码研究(项目编号:61801006)

10. 主持,安徽省重点研究与开发计划项目,分布式扶贫车间智能化控制应用与示范(项目编号:201904f06020037)

二、论文

1. Wenfa Z ,Xinyi H ,Jiangyun Z , et al. Predicting stability of integrated circuit test equipment using upper side boundary values of normal distribution[J].The Journal of China Universities of Posts and Telecommunications,2024,31(02):85-93. DOI:10.19682/j.cnki.1005-8885.2024.0002

2. Zhang Q ,Zhan W ,Wen X . A new die-level flexible design-for-test architecture for 3D stacked ICs[J].Integration the VLSI Journal, 2024, 97 102190

3. Wenfa Z ,Luping Z ,Xuejun F,et al.An equivalent processing method for integrated circuit electrical parameter data using BP neural networks[J]. Microelectronics Journal,2023,139

4. Zhan W ,Zhang L .Reordering method of test set based on vector eigenvalues using critical area estimation[J].Integration,2024,96 102169

5. 詹文法,张鲁萍,江健生.基于联合分类的有效测试模式重选方法[J].仪器仪表学报,2023,44(03):155-162.DOI:10.19650/j.cnki.cjsi.J2210620.

6. 詹文法,邵志伟.一种集成电路测试流程分级动态调整方法[J].电子学报,2020,48(08):1623-1630 152

7. 詹文法,陶鹏程.最小游程切换点标记编码压缩方法[J].清华大学学报(自然科学版),2020,60(10):837-844 160

8 Zhan W, Shao Z. Test patterns reordering method based on Gamma distribution[J]. Integration, 2020, 72(5): 66-71 168

9. 詹文法,程一飞,吴海峰,江健生. 一种引导测试向量自动生成广义折叠的方法[J]. 东南大学学报(自然科学版).2018, 48(2):265-269. 174

10. 詹文法,吴琼,程一飞,吴海峰. 嵌入广义折叠技术的集成电路测试数据压缩方案[J]. 计算机辅助设计与图形学学报. 2017, 29(8): 1542-1548. 181

三、奖项

1. 集成电路系统芯片(SoC)自动化测试技术及设备产业化,安徽省科学技术奖科技进步奖,三等奖,第一,2023

2. 测试数据调整及间接存储的集成电路测试方法及应用,安徽省科学技术奖三等奖,第一,2021

四、发明专利

1. 詹文法,华铭,江健生等. 基于隐马尔可夫模型的电路测试方法、存储介质及装置[P]. 安徽省:CN112083321A,2023-06-30

2. 詹文法,陶鹏程,蔡雪原等. 一种最小游程切换点标记编码压缩方法及装置[P]. 安徽省:CN110798223A,2023-06-30

3. 詹文法,邵志伟,陶鹏程,张振林,刘德阳. 一种针对机器翻译的译文评估方法及装置[P]. 安徽省:CN109446537B,2022-11-25

4. 詹文法,陶鹏程,邵志伟,江健生,程一飞,冯学军,吴海峰,张振林. 一种数据压缩方法及装置[P]. 安徽省:CN109474279B,2022-09-23

5. 詹文法,陶鹏程,邵志伟,江健生,程一飞,冯学军,吴海峰,张振林. 基于FDR的最大相容块的向量压缩方法、装置及系统[P]. 安徽省:ZL201811306318.7,2022-06-21

6. 詹文法,陶鹏程,邵志伟,江健生,程一飞,冯学军,吴海峰,张振林. 基于FDR的最大相容块的向量压缩方法、装置及系统[P]. 安徽省:CN109412605B,2022-06-21.

7. 詹文法,彭勇,蔡雪原,王钊,江健生,金郡,张振林,韩彦召,刘娟. 一种系统级封装后芯片互联测试方法及系统[P]. 安徽省:CN109975693B,2021-12-10.

8. 詹文法,张振林,彭勇,江健生,冯学军,程一飞,吴海峰. 一种数据压缩方法及装置[P]. 安徽省:CN108777583B,2021-08-13

9. 詹文法,陶鹏程,蔡雪原,邵志伟,彭勇,张振林,丁文祥,彭登辉,华铭,都奕. 一种基于前向相容的折叠集分层压缩方法及装置[P]. 安徽省:CN110865299B,2021-10-15

10. 詹文法,程一飞,张振林. 二分区间法的集成电路数据解压电路及方法[P]. 安徽省:CN106953643B,2020-06-26

五、会议交流

1. ITC Asia’24论坛主席

2. 中国计算机学会芯片大会集成电路测试论坛主席

3. 第三届2024集成电路测试(ICTC 2024)特约嘉宾

4. 2024集成电路测试研讨会主题报告

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