11月20日，电子工程与智能制造学院郑江云副教授在A101教室作了题为“芯片测试研究”的学术报告，微电子科学与工程专业部分老师和同学参加了报告会。

报告会上，郑江云副教授首先介绍了芯片测试的作用以及研究意义，及芯片测试的相关概念、测试系统的组成及研究方法，着重介绍了所在课题组在测试领域开展的研究工作，包括无线测试、芯片修调及测试设备动态校准等工作。

郑江云副教授的报告内容跟随学术前沿，深入浅出，现场交流气氛活跃。学术报告结束后，与同学们进行了互动交流，本次报告使现场师生对芯片测试的研究现状与技术方法有了更加深入的认识和理解，拓展了学术视野。（撰稿、摄影:查申龙，审核:詹文法）